@phdthesis{Stahl2010,
  author    = {Stahl, Andreas},
  title     = {R{\"o}ntgenstrukturuntersuchungen an spintronischen Halbleiter- und Halbmetall-D{\"u}nnschichtsystemen},
  url       = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:20-opus-49309},
  school      = {Universit{\"a}t W{\"u}rzburg},
  year      = {2010},
  abstract  = {In dieser Arbeit wurden die strukturellen Eigenschaften von spintronischen Halbleiter- und Halbmetall-D{\"u}nnschichtsystemen untersucht. Mit R{\"o}ntgenreflektivit{\"a}tsmessungen konnten die Schichtdicken und Grenzfl{\"a}chenrauigkeiten der Mehrschichtsysteme sehr genau bestimmt werden. Hierf{\"u}r wurde die Software Fewlay verwendet, welche den Parratt-Formalismus zur Berechnung der Reflektivit{\"a}t nutzt. An reziproken Gitterkarten, die an m{\"o}glichst hoch indizierten Bragg-Reflexen gemessen wurden, konnte das Relaxationsverhalten der Schichtsysteme untersucht werden.},
  subject      = {Halbleiterschicht},
  language  = {de}
}