Dokument-ID Dokumenttyp Verfasser/Autoren Herausgeber Haupttitel Abstract Auflage Verlagsort Verlag Erscheinungsjahr Seitenzahl Schriftenreihe Titel Schriftenreihe Bandzahl ISBN Quelle der Hochschulschrift Konferenzname Quelle:Titel Quelle:Jahrgang Quelle:Heftnummer Quelle:Erste Seite Quelle:Letzte Seite URN DOI Abteilungen OPUS4-3187 Konferenzveröffentlichung Boege, P.; Schäfer, H.; Shanjia, Xu; Xinzhang, Wu; Einfeldt, S.; Becker, Charles R.; Hommel, D.; Geick, R. Improved conductivity-measurement of semiconductor epitaxial layers by means of the contactless microwave method Measurements and calculations of the scattering-characteristics of stratified lossy dielectric blocks completely filling a waveguide cross section are presented. The method is used for contactless conductivity measurements of MBE-grown II-VI semiconductor layers. 1994 urn:nbn:de:bvb:20-opus-37763 Physikalisches Institut