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Volltext vorhanden
ja
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Gehört zur Bibliographie
ja
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Erscheinungsjahr
1982
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Dokumenttyp
Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift
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Sprache
Englisch
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Autor
Schuberth, W. (1)
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Institut
Physikalisches Institut (1)
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The dielectric constant of PbTe at 4.2 K and \(\tilde ν\)=84.15 cm\(^{-1}\), 96.97 cm\(^{-1}\), 103.60 cm\(^{-1}\)
(1982)
Tacke, M.
;
Schuberth, W.
;
Becker, Charles R.
;
Haas, L. D.
The dielectric constant of a PbTe epitaxial layer has been measured by surface wave spectroscopy using an optically pumped far-infrared laser and the technique of attenuated total reflection.
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