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ja
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Gehört zur Bibliographie
ja
(1)
Erscheinungsjahr
1982 (1)
(entfernen)
Dokumenttyp
Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift
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Sprache
Englisch
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Autor
Becker, Charles R.
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Haas, L. D.
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Schuberth, W.
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Tacke, M.
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Institut
Physikalisches Institut
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The dielectric constant of PbTe at 4.2 K and \(\tilde ν\)=84.15 cm\(^{-1}\), 96.97 cm\(^{-1}\), 103.60 cm\(^{-1}\)
(1982)
Tacke, M.
;
Schuberth, W.
;
Becker, Charles R.
;
Haas, L. D.
The dielectric constant of a PbTe epitaxial layer has been measured by surface wave spectroscopy using an optically pumped far-infrared laser and the technique of attenuated total reflection.
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bis
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