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Laboratory-Based Nano-Computed Tomography and Examples of Its Application in the Field of Materials Research

Zitieren Sie bitte immer diese URN: urn:nbn:de:bvb:20-opus-241048
  • In a comprehensive study, we demonstrate the performance and typical application scenarios for laboratory-based nano-computed tomography in materials research on various samples. Specifically, we focus on a projection magnification system with a nano focus source. The imaging resolution is quantified with common 2D test structures and validated in 3D applications by means of the Fourier Shell Correlation. As representative application examples from nowadays material research, we show metallization processes in multilayer integrated circuits,In a comprehensive study, we demonstrate the performance and typical application scenarios for laboratory-based nano-computed tomography in materials research on various samples. Specifically, we focus on a projection magnification system with a nano focus source. The imaging resolution is quantified with common 2D test structures and validated in 3D applications by means of the Fourier Shell Correlation. As representative application examples from nowadays material research, we show metallization processes in multilayer integrated circuits, aging in lithium battery electrodes, and volumetric of metallic sub-micrometer fillers of composites. Thus, the laboratory system provides the unique possibility to image non-destructively structures in the range of 170–190 nanometers, even for high-density materials.zeige mehrzeige weniger

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Autor(en): Dominik Müller, Jonas Graetz, Andreas Balles, Simon Stier, Randolf Hanke, Christian Fella
URN:urn:nbn:de:bvb:20-opus-241048
Dokumentart:Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift
Institute der Universität:Fakultät für Physik und Astronomie / Physikalisches Institut
Sprache der Veröffentlichung:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes / der Zeitschrift (Englisch):Crystals
ISSN:2073-4352
Erscheinungsjahr:2021
Band / Jahrgang:11
Heft / Ausgabe:6
Aufsatznummer:677
Originalveröffentlichung / Quelle:Crystals 2021, 11(6), 677; https://doi.org/10.3390/cryst11060677
DOI:https://doi.org/10.3390/cryst11060677
Allgemeine fachliche Zuordnung (DDC-Klassifikation):5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Freie Schlagwort(e):3D X-ray microscopy; 3D reconstruction; X-ray; instrumentation; integrated circuits; laboratory; nano CT; nondestructive testing
Datum der Freischaltung:10.01.2022
Datum der Erstveröffentlichung:12.06.2021
Open-Access-Publikationsfonds / Förderzeitraum 2021
Lizenz (Deutsch):License LogoCC BY: Creative-Commons-Lizenz: Namensnennung 4.0 International