Investigation of a short period (001) HgTe-Hg\(_{0.6}\)Cd\(_{0.4}\)Te superlattice by transmission electron microscopy
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| Autor(en): | X. F. Zhang, Charles R. Becker, H. Zhang, L. He, G. Landwehr |
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| URN: | urn:nbn:de:bvb:20-opus-38029 |
| Dokumentart: | Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift |
| Institute der Universität: | Fakultät für Physik und Astronomie / Physikalisches Institut |
| Sprache der Veröffentlichung: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1994 |
| Originalveröffentlichung / Quelle: | Semiconductor science and technology (1994) 9, 2217-2223. |
| Allgemeine fachliche Zuordnung (DDC-Klassifikation): | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
| Datum der Freischaltung: | 16.09.2009 |