The orientation independence of the CdTe-HgTe valence band offset as determined by x-ray photoelectron spectroscopy
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| Autor(en): | Charles R. Becker, Y. S. Wu, A. Waag, M. M. Kraus, G. Landwehr |
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| URN: | urn:nbn:de:bvb:20-opus-30784 |
| Dokumentart: | Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift |
| Institute der Universität: | Fakultät für Physik und Astronomie / Physikalisches Institut |
| Sprache der Veröffentlichung: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1991 |
| Originalveröffentlichung / Quelle: | In: Semicond. Sci. Technol. (1991) 6, C76-C79. |
| Allgemeine fachliche Zuordnung (DDC-Klassifikation): | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
| Datum der Freischaltung: | 08.01.2009 |