The dielectric constant of PbTe at 4.2 K and \(\tilde ν\)=84.15 cm\(^{-1}\), 96.97 cm\(^{-1}\), 103.60 cm\(^{-1}\)
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- The dielectric constant of a PbTe epitaxial layer has been measured by surface wave spectroscopy using an optically pumped far-infrared laser and the technique of attenuated total reflection.
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| Autor(en): | M. Tacke, W. Schuberth, Charles R. Becker, L. D. Haas |
|---|---|
| URN: | urn:nbn:de:bvb:20-opus-30821 |
| Dokumentart: | Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift |
| Institute der Universität: | Fakultät für Physik und Astronomie / Physikalisches Institut |
| Sprache der Veröffentlichung: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 1982 |
| Originalveröffentlichung / Quelle: | Appl. Phys. A (1982) 28, 229-233. |
| Allgemeine fachliche Zuordnung (DDC-Klassifikation): | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
| Datum der Freischaltung: | 05.09.2009 |