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Spectral-interference microscopy for characterization of functional plasmonic elements

Zitieren Sie bitte immer diese URN: urn:nbn:de:bvb:20-opus-85922
  • Plasmonic modes supported by noble-metal nanostructures offer strong subwavelength electric-field confinement and promise the realization of nanometer-scale integrated optical circuits with well-defined functionality. In order to measure the spectral and spatial response functions of such plasmonic elements, we combine a confocal microscope setup with spectral interferometry detection. The setup, data acquisition, and data evaluation are discussed in detail by means of exemplary experiments involving propagating plasmons transmitted throughPlasmonic modes supported by noble-metal nanostructures offer strong subwavelength electric-field confinement and promise the realization of nanometer-scale integrated optical circuits with well-defined functionality. In order to measure the spectral and spatial response functions of such plasmonic elements, we combine a confocal microscope setup with spectral interferometry detection. The setup, data acquisition, and data evaluation are discussed in detail by means of exemplary experiments involving propagating plasmons transmitted through silver nanowires. By considering and experimentally calibrating any setup-inherent signal delay with an accuracy of 1 fs, we are able to extract correct timing information of propagating plasmons. The method can be applied, e.g., to determine the dispersion and group velocity of propagating plasmons in nanostructures, and can be extended towards the investigation of nonlinear phenomena.zeige mehrzeige weniger

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Autor(en): Christian Rewitz, Thomas Keitzl, Philip Tuchscherer, Sebastian Goetz, Peter Geisler, Gary Razinskas, Bert Hecht, Tobias Brixner
URN:urn:nbn:de:bvb:20-opus-85922
Dokumentart:Artikel / Aufsatz in einer Zeitschrift
Institute der Universität:Fakultät für Chemie und Pharmazie / Institut für Physikalische und Theoretische Chemie
Sprache der Veröffentlichung:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes / der Zeitschrift (Englisch):Optics Express
Erscheinungsjahr:2012
Originalveröffentlichung / Quelle:In: Optics Express (2012) 20: 13, 14632-14647, doi:10.1364/OE.20.014632
URL der Erstveröffentlichung:http://www.opticsinfobase.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-20-13-14632&id=238393
Allgemeine fachliche Zuordnung (DDC-Klassifikation):5 Naturwissenschaften und Mathematik / 54 Chemie / 540 Chemie und zugeordnete Wissenschaften
Datum der Freischaltung:12.05.2014
Sammlungen:Open-Access-Publikationsfonds / Förderzeitraum 2012
Lizenz (Deutsch):License LogoDeutsches Urheberrecht